Võrku ühendatud mikroskoobi õppesüsteem

Võrku ühendatud mikroskoobi õppesüsteem

Digitaalsed interaktiivsed mikroskoopiasüsteemid ühendavad suure{0}}eraldusvõimega optilised teed sisseehitatud digitaalsete protsessorite ja puute{1}}interaktiivsete liidestega.
Küsi pakkumist
Kirjeldus
Tehnilised parameetrid

Digitaalsed interaktiivsed mikroskoopiasüsteemid ühendavad suure{0}}eraldusvõimega optilised teed sisseehitatud digitaalsete protsessorite ja puute{1}}interaktiivsete liidestega. Need süsteemid, mis on mõeldud tööstuslikuks kontrolliks, materjalianalüüsiks ja bioteaduslikeks laboriteks, kõrvaldavad traditsioonilise okulaari väsimise, voogesitades üli-HD reaalajas-kujutisi otse integreeritud kuvaritele või välistele monitoridele. Alumiiniumisulamist šassii ja modulaarsete optiliste komponentidega ehitatud süsteem toetab täpset-ekraanil mõõtmist, ühist vaatamist ja sujuvat andmeedastust USB 3.0 ja Gigabit Etherneti kaudu ning otse eksportimist LIMS-ühilduvatesse vormingutesse (CSV, Excel, PDF).

 

 

Tehnilised andmed

 

 

Parameeter

Spetsifikatsioon

Optiline suurendus

20x – 500x (konfigureeritav objektiivide kaudu)

Digitaalne andur

1/1,8" Sony CMOS-sensor, 4K UHD (3840 x 2160)

Kaadrisagedus

60 kaadrit sekundis 4K eraldusvõimega (null latentsusaeg)

Töökaugus

35-120 mm

Valgustus

Kvadrand{0}}juhitava heleduse/nurga reguleerimisega LED-rõngas

Mõõtmisvahendid

Punkt-punktini-punkt, nurk, raadius, ala, kontsentrilised ringid, automaatne-servatuvastus

Tarkvara ja OS-i ühilduvus

Manustatud Linux; Windows 10/11 ja macOS-iga ühilduv arvutitarkvara

Andme- ja ekspordipordid

HDMI, USB 3.0, RJ45 Gigabit Ethernet, MicroSD (kuni 256 GB); mõõtmisaruannete otseeksport (PDF/Excel)

Toiteallikas

DC 12V / 3A sisend

 

 

Põhifunktsioonid

 

 

Null-latentsusega 4K ekraan:Otsene HDMI-väljund kiirusega 60 kaadrit sekundis tagab liikumiste reaalajas-jälgimise ilma liikumise hägususe või viivituseta.

 

Sisseehitatud mõõtmistarkvara:Pardal olevad-kalibreerimis- ja mõõtmistööriistad töötavad sõltumatult, ilma et oleks vaja välist arvutiühendust.

 

Modulaarne eesmärgikujundus:Tääk{0}}kinnitusega optika võimaldab kiiresti lülituda metallurgiliste, bioloogiliste ja polariseerivate objektiivide vahel.

 

Mitme kasutaja{0}}koostöö:Samaaegne väljund puuteekraanidele, monitoridele ja võrguterminalidele meeskonna ülevaatamiseks ja kontrollimiseks -väljas.

 

Jälgitav kalibreerimine:Tehase{0}}kalibreeritud mikromeetrid, mis on kaasas jälgitavate NIST-kalibreerimissertifikaatidega.

 

 

Rakendused

 

Elektroonika ja PCB tootmine

Jootekoha kontroll, BGA joonduse kontroll ja mikro{0}}pragude tuvastamine trükkplaatidel.

Metallurgiline analüüs

Tera suuruse hindamine, faasianalüüs ja keevisõmbluse läbitungimissügavuse mõõtmine metalli valmistamisel.

Bioteadus ja haridus

Patoloogia slaidiülevaade, koeproovide vaatlemine ja digitaalsed tutvustused klassiruumis.

Täppismasinaehitus

Pinnaviimistluse kontroll, keerme sammu kontrollimine ja mikro{0}}komponentide mõõtmed.

 

 

Konfiguratsiooni valikud

 

 

Statiivi konfiguratsioonid:Tugevad-poomialused suurte näidiste, liigendkäepidemete või standardsete peen-fookusega vertikaalpostide jaoks.


Valgustusmoodulid:Helevälja, tumevälja, koaksiaalpolariseeritud valguse ja UV-fluorestsentsmoodulid.


Kaamera moodulid:Vahetatavad anduripead alates standardsetest 1080p suure{1}}kiirusega kuni 12 MP suure-dünaamilise-vahemiku (HDR) variantideni.

 

 

OEM/ODM ja kohandamine

 

 

Püsivara ja kasutajaliidese kaubamärk:Kohandatud alglaadimisekraanid, lokaliseeritud tarkvaraliidesed ja patenteeritud mõõtmistööriistade komplektid.

 

Optilised kohandused:Kohandatud töökaugused, spetsiaalsete filtrite integreerimine (ribapääs/polarisatsioon) ja eritellimusel valmistatud kinnitusklambrid automatiseeritud tootmisliinidele.

 

Tootmisvõimsus:Majasisesed-CNC-töötlemiskeskused ja puhasruumi optilised koosteliinid toetavad stabiilsete teostusaegadega partiitellimusi.

 

 

Kvaliteedikontroll

 

 

Optika ülevaatus:Interferomeetri testimine kontrollib läätse lainefrondi viga ja katte ühtlust enne kokkupanekut.

 

Anduri kalibreerimine:Iga CMOS-andur läbib pikslite defektide kaardistamise ja värvitemperatuuri kalibreerimise.

 

Keskkonna testimine:Valminud üksused läbivad 48-tunnise sissepõlemistesti ja vibratsioonikontrolli, et tagada termiline stabiilsus ja mehaaniline vastupidavus tööstuslikes keskkondades.

 

Standardite järgimine:ISO 9001 sertifitseeritud tootmine, CE, FCC ja RoHS nõuetele vastav.

 

 

Pakendamine ja saatmine

 

 

Pakend:Täppis-vormitud anti-staatilised EPS/EPE vahtmaterjalid, mis on paigutatud rasketesse-topeltseinaga-lainepapist eksporditavatesse karpidesse. Tundliku rahvusvahelise transiidi jaoks on saadaval valikulised vastupidavad lennukarbid.

 

Kaitse kukkumise ja põrutuse eest:Pakendit on rangelt testitud vastavalt ISTA kukkumisstandarditele, et kaitsta õrnu optilisi joondusi pika{0}}ülemaailmse kaubaveo ajal.

 

Kastis olevad-elemendid:Peamine mikroskoobiseade, toiteadapter, kalibreerimisklaas, USB-hiir, HDMI-kaabel ja kalibreerimissertifikaat.

 

Kohaletoimetamine:Standardne õhu- ja meretranspordi logistika koos põrutus{0}}ja-kaldeindikaatoritega, mis on kinnitatud põhikarpidele.

 

 

Korduma kippuvad küsimused

 

 

K: Kas süsteem vajab mõõtmiste tegemiseks arvutit?

V: Ei. Süsteem käitab sisseehitatud mõõtmistarkvara otse ühendatud hiire või puuteekraani kaudu HDMI-väljundi kaudu. Arvuti on valikuline täiustatud andmete aruandluseks ja andmebaasi integreerimiseks USB 3.0 kaudu.

K: Mis on maksimaalne kaadrisagedus 4K eraldusvõimega?

V: Süsteem väljastab 60 kaadrit sekundis täis 4K (3840 x 2160) eraldusvõimega, välistades reaalajas kontrolli ajal liikumise viivituse.

K: Milliseid tarkvaravorminguid andmete eksportimiseks toetatakse?

V: Mõõtmisandmeid, pilte ja kontrollloge saab eksportida otse CSV-sse, Excelisse ja struktureeritud PDF-aruannete vormingutesse, hõlbustades integreerimist laboriteabe haldussüsteemidega (LIMS).

K: Kas optilist suurendust saab pärast ostmist uuendada?

V: Jah. Modulaarne bajonettkinnitus võimaldab operaatoritel objektiivi objektiive vahetada ja suurendusvahemiku reguleerimiseks lisada täiendavaid Barlow objektiive.

K: Kuidas toimub süsteemi kalibreerimine ISO{0}}ühilduvate auditite jaoks?

V: Iga seade tarnitakse koos sertifitseeritud mikromeetriga. Operaatorid kasutavad-ekraanil olevat kalibreerimisviisardit, et genereerida NIST-jälgitavaid kalibreerimisandmeid, mis salvestatakse otse seadmesse.

K: Millised on OEM-i kohandamise tähtajad kaubamärgiga püsivara jaoks?

V: Tarkvara esmane kohandamine ja näidistestimine nõuavad tavaliselt 3–4 nädalat, kusjuures tootmismaht ühtib standardsete tootmisgraafikutega.

 

 

Küsi hinnapakkumist

 

 

Tehase{0}}otsehinna, tehniliste jooniste või kohandatud OEM-i nõuete täpsustamiseks täitke allolevad päringu parameetrid. Meie insenerirakenduste meeskond vastab 24 tunni jooksul ametliku hinnapakkumise ja konfiguratsiooni teostatavusaruandega.

[Küsi tehase pakkumist ja tehnilist andmelehte]

[Küsige OEM-i/ODM-i kohandamise kohta]

 

Kuum tags: võrguga ühendatud mikroskoobi õppesüsteem, Hiina võrguga ühendatud mikroskoobi õppesüsteemide tootjad, tarnijad

 
Meie tehase sertifikaadid
 
Phenix ISO9001
ISO9001:2015
Phenix ISO14001
ISO14001:2015
Phenix ISO45001
ISO45001:2015
 

Kvaliteedikontroll

 
  • 100% optiline testimine
  • Vananemise test enne tarnimist
 

CTA