Digitaalse mikroskoobi näidissüsteem

Digitaalse mikroskoobi näidissüsteem

Digitaalse mikroskoobi demonstratsioonisüsteem (mudel: DMD-4K60) on integreeritud optiline-digitaalne platvorm, mis on loodud reaalajas mikroskoopiliseks koostööks, institutsionaalseks koolituseks ja täppiskontrolli ülevaatamiseks.
Küsi pakkumist
Kirjeldus
Tehnilised parameetrid

Digitaalse mikroskoobi demonstratsioonisüsteem (mudel: DMD-4K60) on integreeritud optiline-digitaalne platvorm, mis on loodud reaalajas mikroskoopiliseks koostööks, institutsionaalseks koolituseks ja täppiskontrolli ülevaatamiseks. Sidudes kõrge-tundliku CMOS-anduri ülimadala latentsusajaga digitaalse ülekande ja mootoriga fookuse juhtimisega, projitseerib süsteem reaalajas mikro-struktuure 4K eraldusvõimega mitmele ekraanile samaaegselt. See on loodud ülikoolide laborite, kutsekeskuste ja tööstuskoolitusruumide jaoks ning kõrvaldab traditsioonilised ühe okulaariga seotud piirangud.

 

 

Tehnilised andmed

 

 

Parameeter

Spetsifikatsioon

Pildiandur

1/1,8" Sony STARVIS CMOS-sensor

Maksimaalne eraldusvõime ja kaadrisagedus

4K UHD (3840 × 2160) 60 kaadrit sekundis

Optiline suurendusvahemik

20x – 1000x (konfigureeritav objektiivide kaudu)

Vaateväli (FOV)

0,8 mm kuni 35 mm

Väljundliidesed

HDMI 2.0, USB 3.0 Type-C, Gigabit Ethernet (RJ45)

Valgustussüsteem

Kahe-kanaliga koaksiaal- ja rõngas-LED (CRI > 95, reguleeritav värvitemperatuur 3000–6500 K)

Fookusmehhanism

Koaksiaalne jäme/peen teravustamine koos motoriseeritud mikro{0}}sammu juhtimisega (0,1 μm sammu täpsus)

Operatsioonisüsteemi tugi

Windows 10/11 (64-bitine), macOS, Linux (ühildub UVC/UAC-protokolliga)

Toiteallikas

AC 100V–240V, 50/60Hz sisend; DC 12V/3A väljund

 

 

Põhifunktsioonid

 

 

Null-latentsusega 4K voogesitus:Tihendamata 60 kaadrit sekundis HDMI ja võrguedastus kõrvaldavad visuaalse viivituse reaalajas manipuleerimise ja juhendaja tutvustamise ajal.

 

Sünkroonitud mitme{0}}ekraani väljund:Samaaegne väljund projektoritele, ruumiekraanidele ja õpilaste tööjaamadele kohaliku võrgu või HDMI-jaoturite kaudu.

 

Interaktiivne märkuste tarkvara:Integreeritud mõõtmiskomplekt toetab reaalajas kalibreerimist, mõõtmete ülekatet, nurga mõõtmist ja pildi/video jäädvustamist ilma kolmandate osapoolte pistikprogrammideta.

 

Täpne optiline koost:Mitmekihiline peegeldusvastane-lairiba (AR) kaetud klaasoptika minimeerib kromaatilist aberratsiooni ja maksimeerib valguse läbilaskvust.

 

Modulaarne stendi arhitektuur:Tugev-surve-valatud alumiiniumist alus koos vibratsiooni-summutavate jalgadega tagab mehaanilise stabiilsuse suure-suurenduse reguleerimisel.

 

 

Rakendused

 

 

Kõrghariduse laborid:Bioloogia-, patoloogia- ja materjaliteaduse loengud, mis nõuavad reaalajas näidiste{0}}esitlemist suurtele üliõpilasrühmadele.

 

Tööstusliku uurimis- ja arendustegevuse ning rikete analüüs:Koostööülevaatused, kus insenerimeeskonnad analüüsivad samaaegselt mikro-murdeid, trükkplaatide jootevigu ja materjali mikro{1}struktuure.

 

Meditsiinikoolituskeskused:Histoloogia ja tsütoloogia tehnika esitlused edastati otse kirurgilise koolituse amfiteatritesse.

 

Tehniline kutseõpe:Standardiseeritud koostetõendamise koolitus elektroonika- ja täppistootjatele.

 

 

Konfiguratsiooni valikud

 

Standardne akadeemiline komplekt

DMD-4K60 optiline korpus, topelt LED-valgustus, standardne XY mehaaniline aste, põhilise mõõtmistarkvara litsents.

Tööstuslik täiustatud komplekt

Lisab mootoriga Z-telje fookuse, polarisatsioonifiltri komplekti, koaksiaalsed metallurgilised objektiivid ja mitme kasutajaga võrgu voogesituse mooduli.

Kohandatud eesmärkide komplekt

Soovi korral on saadaval vahetatavad objektiivid (4x, 10x, 20x, 50x, 100x Plan Achromat).

 

 

OEM/ODM ja kohandamine

 

 

Tarkvara bränding:OEM-kliendi logo integreerimine hõivamise ja mõõtmise tarkvara liidesesse.


Riistvara kohandamine:Kohandatud kinnitusklambrid ja optilised pordiadapterid liidestamiseks olemasolevate noolealuste või spetsiaalsete kaitsekatetega.


Püsivara kohandamine:Kohandatud võrguprotokollid (RTSP/ONVIF) integreerimiseks olemasolevatesse institutsionaalsetesse AV-infrastruktuuridesse.

 

 

Kvaliteedikontroll

 

 

Optiline joondus:Iga optiline plokk läbib laserinterferomeetria testimise, et kontrollida lainefrondi viga ja kõrvaldada sfääriline aberratsioon.

 

Anduri kalibreerimine:Surnud pikslite kaardistamine ja värvitemperatuuri kalibreerimine, mis teostatakse{0}}kontrollitud temperatuuriga puhta ruumi keskkonnas.

 

Stressitestimine:Mehaanilised fookussõlmed läbivad enne koostu vabastamist 100 000 pidevat käitamistsüklit.

 

Elektriline vastavus:Sertifitseeritud vastavalt CE, FCC, UL/ETL ja RoHS standarditele; toiteallikad läbivad 48-tunnise täis-koormuse läbipõlemistesti.

 

 

Pakendamine ja saatmine

 

 

Pakendi struktuur:Kohandatud CNC{0}}freesitud suure-tihedusega EPE vahtplastist hoidikud on eraldi optilised ja elektroonilised komponendid, et neelata transiidilööke.

 

Väliskarp:Topelt-seinaga lainepapist ekspordikarp, mis on tugevdatud servakaitsete ja niiskustõkkega vaakumtihendiga.

 

Logistika vastavus:ISTA 3A kukkumistestiga-pakend, mis on kinnitatud rahvusvaheliseks õhu- ja meretranspordiks.

 

 

Korduma kippuvad küsimused

 

 

K: Kas süsteem vajab põhiprojektsiooniks välist arvutiühendust?

V: Ei. Süsteemil on otsene HDMI-väljund monitoride või projektorite ühendamiseks-ja esita{2}}. Arvutit on vaja ainult täiustatud mõõtmis- ja salvestustarkvara kasutamisel USB 3.0 või Etherneti kaudu.

K: Mis on maksimaalne võrgu edastusviivitus kohtvõrgu kaudu voogesituse korral?

V. Standardse Gigabiti kohaliku võrgu latentsusaega hoitakse alla 85 millisekundi, kasutades riistvara{1}}kiirendatud H.265 kodeeringut.

K: Kas olemasolevaid mikroskoobi objektiive saab selle süsteemiga kasutada?

V: Standardne ninaotsak kasutab RMS keerme sammu (45 mm parfookuskaugus). Soovi korral on saadaval adapterid mittestandardsete lõimede jaoks-.

K: Kuidas reguleeritakse valgustust suure{0}}suurendusega vaatluse ajal?

V: Valgustuse intensiivsust ja värvitemperatuuri reguleeritakse sõltumatult puutetundlike esipaneelide{0}}pöörlevate kodeerijate või tarkvaraliuguritega, vältides peegeldavate metallinäidiste pimestamist.

K: Millised kalibreerimisvahendid on mõõtmete mõõtmiseks kaasas?

V: Iga süsteemiga on kaasas riikliku standardi- ja tehnoloogiainstituudi (NIST) jälgitav mikromeetri kalibreerimisklapp ja tarkvara kalibreerimisviisard.

K: Mis on standardgarantii ja tehnilise toe poliitika?

V: Süsteem sisaldab 2-aastast piiratud garantiid, mis katab optilised ja elektroonilised defektid, mida toetab püsivara kaugvärskenduse tugi ja modulaarsete komponentide asendamise teenus.

 

 

Küsi hinnapakkumist

 

 

Ametliku hinnapakkumise, mahuhinna või tehnilise integratsiooni toe saamiseks oma asutuse jaoks esitage oma päring järgmiste parameetritega, et meie insenerimeeskond saaks esitada täpse ettepaneku.

 

Rakenduskeskkond:(nt bioloogiline labor, metallurgiline kontroll, elektroonika kokkupanek)

 

Nõutav konfiguratsioon:Standardne akadeemiline komplekt vs. tööstuslik täiustatud komplekt

 

Kogus ja tarne üksikasjad:Sihttarne sihtnumber/sadam ja institutsioonilised nõuded

 

Vastavusvajadused:Spetsiifilised piirkondlikud elektrisertifikaadid (nt UL/ETL Põhja-Ameerika jaoks, CE Euroopa jaoks)

Kuum tags: digitaalmikroskoobi esitlussüsteem, Hiina digitaalmikroskoobi esitlussüsteemide tootjad, tarnijad

 
Meie tehase sertifikaadid
 
Phenix ISO9001
ISO9001:2015
Phenix ISO14001
ISO14001:2015
Phenix ISO45001
ISO45001:2015
 

Kvaliteedikontroll

 
  • 100% optiline testimine
  • Vananemise test enne tarnimist
 

CTA